BJ2990半导体分立器件自动测试系统是一款高性能、高可靠性、具有开放架构的自动测试系统。
系统采用先进的体系架构，实现半导体分立器件的快速、精准测试。可以与分选机、探针台连接，实现半导体分立器件的高速测试、分选，可测器件包括晶体管（BJT）、场效应管(MOSFET)、二极管(Diode)、稳压管二极管(Zener)、可控硅(SCR)等。
系统具有良好的扩展性，各种资源模块可灵活扩展，从而可为不同客户的不同需求进行最经济的系统配置。
系统采用计算机自动控制，为用户提供友好直观的操作界面，测试数据处理功能强大。
系统可应用于半导体分立器件的成品量产测试，也可为军、民品器件生产与应用企业服务，同时可作为高校和科研机构器件及测试研究设备。
【主要特点】
● 测试速度快，高性能、高可靠性；
● 测试覆盖面宽，适应多种类型的半导体分立器件;
● 开放体系架构，系统配置灵活，很强的可扩展性；
● 具有自动校准、自动检测功能；
● 适应不同厂家的分选机、探针台；
● 基于Windows系统的系统软件，操作界面直观友好，编程方法易于掌握，编程效率高。
【测试参数】
二极管：VR、IR、VF、VZ；
三极管：VFBC、VFBE、BVCEO、BVCBO、BVEB、ICEO、ICBO、IEB、VCE(sat)、VBE(sat)、HFE；
场效应管：VTH、BVDSO、BVDGO、BVGS、IDSO、IGDO、gm；
可控硅：VGT、IGT、IH、IL、BVAKO、IAK。
【技术指标】
测试电压/电流：1000V/20A；
通道：2 通道 乒乓方式；
接口：TTL，GPIB；
控制板(CB)：48路继电器驱动，每路100mA电流驱动能力；
数字电压表(VM)：差分电压隔离输入，16位ADC，最高士50V量程；
双路功率源(DVI)：士50V/士20A功率电压电流源，具有钳位功能，16位DAC；
高压源(HVS)：士1000V/2mA；
电压电流转换(IVC)：士10A。
电话：010-63161086
