本系列是利用“带宽—增益乘积”原理测量高频小功率晶体三极管特征频率的全晶体管化专用设备。测量频率分别为：10MHz、30MHz、100MHz、200MHz、400MHz。仪器可监测各频率下的│B│。
本系列各点频呈独立单机,可以单独购置和使用.
FT测试仪系列QG01-QG05 整套共5台 其中包括
高频小功率晶体三极管FT测试仪QG01
高频小功率晶体三极管FT测试仪QG02
高频小功率晶体三极管FT测试仪QG03
高频小功率晶体三极管FT测试仪QG04
高频小功率晶体三极管FT测试仪QG05
技术性能及参数
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型号
项目
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QG01
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QG02
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QG03
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QG04
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QG05
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测量频率(MHz)
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10
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30
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100
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200
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400
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fT测量额定范围(MHz)
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10-100
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30-300
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100-1000
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200-2000
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400-4000
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fT测量有效范围(MHz)
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20-80
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60-240
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200-800
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400-1600
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800-3200
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fT测量工作误差
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＜±7%
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＜±7%
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＜±10%
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＜±10%
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＜±10%
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β测量额定范围
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1-30
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1-30
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1-30
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1-30
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1-30
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β测量有效范围
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10-30
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10-30
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10-30
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10-30
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10-30
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β测量工作误差
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＜±7%
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＜±7%
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＜±10%
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＜±10%
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＜±10%
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偏压源范围(V)
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0.2-30
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0.2-30
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0.2-30
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0.2-30
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0.2-30
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电压指示误差
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＜±1.5%
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＜±1.5%
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＜±1.5%
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＜±1.5%
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＜±1.5%
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偏流源范围(mA)
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0.1-100
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0.1-100
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0.1-30
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0.1-30
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0.1-100
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电流指示误差
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＜±2
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＜±2
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＜±2
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＜±2
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＜±2
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B、E开路电压(V)
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＜±2.5
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＜±2.5
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＜±3.5
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＜±3.5
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＜±3.5
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整机校准稳定误差
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＜±2×
10-2/小时
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＜±2×
10-2/小时
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＜±2×
10-2/小时
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＜±2×
10-2/小时
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＜±2×
10-2/小时
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